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关于轴类测量仪测量粗糙工件方法的介绍

发布者：admin 点击：217 发布时间：2023-6-29

轴类测量仪是一种利用光学显微镜放大物体，然后通过CCD摄像系统将被测物体的图像传输到与仪器相连的计算机，然后用于非接触和检测各种复杂工件的几何量的设备。

在实际测量过程中，轴类测量仪测量的工件不全光滑，需要测量一些粗糙的工件。一般来说，光滑的工件成像会更清晰，所以测量结果会更好，而粗糙的工件则不同，成像可能不清晰，会从各个方面影响测量结果。因此，轴类测量仪在测量粗糙时需要采取相应的方法才能得到准确的结果。

一般来说，轴类测量仪在测量粗糙工件时可以采用以下三种方法，即印模法、干涉法和光切法。印模法是指工件在测量前使用石蜡或一些低熔点合金等印模材料，印在测量工件表面，然后放置在轴类测量仪的显微镜下进行测量。虽然这种方法可以很好地测量结果，但也有局限性，主要适用于大型或大型工件。

干涉法是指利用轴类测量仪的光波干涉原理，然后使用干涉显微镜进行具体尺寸测量。光切割法也采用轴类测量仪的光切割原理，采用设备的双管显微镜进行相关测量。

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光学测量